Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
portes grátis
Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
Sayil, Selahattin
Springer International Publishing AG
09/2022
136
Dura
Inglês
9783031127502
15 a 20 dias
437
Descrição não disponível.
Introduction.- Interconnect Noise.- Clock Noise and Uncertainty.- Power Supply Noise.- Substrate Coupling Noise.- Radiation Induced Soft Error Mechanisms.- Thermally Induced Errors.- Impact of Process Variations.
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CMOS Design & Reliability textbook;VLSI Design for Reliability textbook;VLSI Noise textbook;Interconnect Noise;Radiation Induced Soft Error
Introduction.- Interconnect Noise.- Clock Noise and Uncertainty.- Power Supply Noise.- Substrate Coupling Noise.- Radiation Induced Soft Error Mechanisms.- Thermally Induced Errors.- Impact of Process Variations.
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